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國際傷口修復與再生中心

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儀器簡介

       原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscopy, AFM)基本作用原理是將雷射聚焦於微小探針的背面從而使得雷射訊號能藉此被反射到位置偵測器(position sensitive photo-detector, PSPD)上。當探針與樣品間有力的變化時即會使得探針的懸臂樑產生偏折並因此影響雷射訊號在位置偵測器上的位置,藉由記錄、處理和分析探針的懸臂偏折變化狀況,使用者即可得知樣品的表面特性(包含形貌、粗糙度等)、力學特性(楊氏模數)和其他物理特性(介電常數、相位差等)。本中心已購置共軛焦螢光顯微鏡,並將其與原子力顯微鏡組成共軸的整合系統,並運用此整合系統來標定細胞結構特徵,並同時掃描其表面及力學特性分析。目前本中心也開放部分時段來提供代工服務與技術諮詢,期望能與國內外的產官學界多方合作並產出實際成果。

服務項目

  1. 物質表面特徵掃描及力學特性分析
  2. 細胞表面特徵掃描及力學特性分析
  3. 生物組織力學特性分析
  4. 細胞特徵之螢光影像擷取,表面掃描及力學特性分析
  5. 細胞外基質螢光影像擷取,表面掃描及力學特性分析